PP 281

双坐标增量光栅尺

  • 高精度的平面内位置测量
  • 测量步距1 µm至0.05 µm
  • 接口:1 VPP

短测量环

一个PP 281二维光栅尺可测量两个轴。直接进行二维测量,显著缩短测量环。减少不利影响,显著提高测量精度。

高精度扫描

PP 281二维光栅尺采用干涉扫描原理。其测量基准是玻璃陶瓷基体上的相位光栅。这款光栅尺测量步距极小和测量精度极高。

易于安装

这款光栅尺信号周期极小,分辨率高,是高精度应用的理想选择。对于如此高精度的光栅尺,安装公差相当宽松,因此易于安装。

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