海德汉历史中和产品开发中的里程碑

公司源自威廉·海德汉于1889年在德国柏林创建的金属蚀刻工厂。 这家工厂生产模板,标识,刻度尺和标尺。 二战期间公司被毁,威廉·海德汉之子在地处德国特劳恩罗伊特创建约翰内斯·海德汉博士公司(DR. JOHANNES HEIDENHAIN)。 最初的产品也是刻度尺和零售用的计价秤。 不久后开始生产机床的光学位置测量系统。 六十年代初期开始转向生产光电扫描的直线光栅尺和角度编码器。 这些发展促成了制造业中许多机器和设备的自动化。

七十年代中期以后,海德汉公司已成为机床数控系统和驱动系统的重要制造商。

自公司创建始,一直秉持注重技术发展之路。 为保持公司持续发展和技术领先地位,1970年约翰内斯•海德汉博士将其持有的公司股份转入基金会。 这使今天的海德汉公司可投入大量资金进行研发。

重要历史里程碑

1889

威廉·海德汉在柏林创建金属蚀刻公司

1923

约翰内斯·海德汉博士加入其父亲的公司

1948

约翰内斯·海德汉博士公司开始在特劳恩罗伊特运营

1950

发明DIADUR工艺: 用母版光栅制版技术生产高耐用性的高精度光栅

1970

成立非赢利的约翰内斯·海德汉基金会

1980

约翰内斯·海德汉博士去世

2014

海德汉在全部工业化国家设立代表处

计量项目

1961光电扫描测量显微镜
1966为德国联邦物理技术研究院(PTB)提供干涉比较仪
1971为PTB提供角度测量台和圆光栅检测设备
1977为PTB提供高精度纳米尺
1989新技术望远镜(NTT)的角度编码器
1999超大型望远镜(VLT)的角度编码器
1999多个国家计量院间国际NANO-3长度比对测量的直线光栅尺
2001为PTB提供纳米干涉比较仪
2003海德汉,PTB与AIST(日本产业技术综合研究所)间角度比对测量
2004海德汉,PTB与MITUTOYO间长度比对测量
2004角度编码器用于加那利大型望远镜(Gran Telescopio CANARIAS)
2005海德汉与PTB间角度比对测量
2007为25个欧洲ALMA天线提供角度编码器(Atacama大型阵列望远镜)
2013

角度编码器用于丹尼尔·井上太阳望远镜(DKIST,原先进技术太阳望远镜,ATST)

光栅技术里程碑

1936

用照相制版生产玻璃光栅尺,精度± 0.015 mm

1943

用制版技术生产圆光栅,精度± 3秒

1952

重量秤成为主要收入来源

1967

自持光栅,显微结构

1985

增量式直线光栅尺的距离编码参考点

1986

相位光栅

1995

二维编码器格栅

2002

干涉扫描直线光栅尺的平面相位光栅

2005

抗污染的幅值光栅,激光烧蚀法生产

2009

大型二维格栅(400 mm x 400 mm),用于半导体工业的测量系统

编码器里程碑: 敞开式直线光栅尺

1952

机床的光学直线光栅尺

1961

LID 1增量式直线光栅尺,栅距8 µm / 测量步距2 µm

1963

LIC绝对式直线光栅尺,18条刻轨,纯二进制编码 / 测量步距5 µm

1965

激光干涉仪,用于机床校准

1987

LIP 101敞开式干涉扫描直线光栅尺,测量步距0.02 µm

1989

LIP 301敞开式干涉扫描直线光栅尺,测量步距1 nm

1992PP 109R二维干涉扫描直线光栅尺

2008

LIP 200干涉扫描直线光栅尺,信号周期0.512 µm,最高运动速度3 m/s

2010

LIC 4000绝对式敞开直线光栅尺,2条刻轨,伪随机码,EnDat 2.2,最大测量长度27 m和分辨率1 nm

2012

LIC 2100绝对式单条刻轨直线光栅尺
2015LIP 6000紧凑型干涉扫描直线光栅尺

编码器里程碑: 封闭式直线光栅尺

1952

机床的光学直线光栅尺

1966

LIDA 55.6全封闭增量式钢带直线光栅尺

1975

LS 500玻璃光栅的增量式直线光栅尺,最大测量长度3 m,测量步距10 µm

1977

LIDA 300增量式直线光栅尺,最大测量长度30 m

1994

LC 181全封闭绝对式直线光栅尺,7条刻轨,EnDat接口,测量长度3 m,测量步距0.1 µm

1996

LC 481绝对式直线光栅尺,2条刻轨, PRC,EnDat,最大测量长度2 m

2011

LC 200绝对式直线光栅尺,最大测量长度28 m,PRC,测量步距10 nm

2014LC xx5绝对式直线光栅尺,最大测量长度4 m,测量步距1 nm
2015LP 100增量式直线光栅尺,最大测量长度3 m,测量步距32.5 pm

编码器里程碑: 角度编码器

1952

光学角度编码器

1957/1961

ROD 1光电扫描角度编码器,每圈40,000个信号周期,10,000线

1962

ROD 1每圈72,000个信号周期

1964

ROC 15绝对式角度编码器 / 分辨率17 bit

1975

ROD 800增量式角度编码器,精度± 1秒

1986

RON 905增量式角度编码器,精度± 0.2秒

1997

RCN 723绝对式角度编码器,空心轴带定子联轴器版,单圈23 bit,EnDat接口,精度± 2秒

2000

ERP 880干涉扫描角度编码器,每圈180,000个信号周期,精度± 0.2秒

2004

RCN 727绝对式角度编码器,空心轴,最大直径100 mm

2009

ROP 8080晶片测针的干涉扫描角度编码器,有承载功能的角度编码器,每圈360,000个信号周期

2011

ERP 1080微型干涉扫描角度编码器,单芯片的编码器结构

编码器里程碑: 旋转编码器

1957/1961

ROD 1增量式光电扫描旋转编码器,10,000线

1964ROD 2 / ROD 4系列增量式标准旋转编码器

1981

ROD 426增量式旋转编码器:工业标准

1987

ROC 221 S绝对式多圈编码器,单圈12 bit,多圈9 bit

1992

ERN 1300伺服驱动的增量式旋转编码器,最高工作温度120 °C

1993

ECN 1300EQN 1300绝对式单圈和多圈旋转编码器

2000

EQN 1100微型绝对式多圈旋转编码器,板载芯片技术

2000

ECN 100绝对式单圈旋转编码器,最大空心轴直径50 mm

2004

ECI 1100EQI 1100微型绝对式单圈和多圈旋转编码器,感应扫描

2007

绝对式旋转编码器带“功能安全”特性,满足SIL2/PL d应用要求和EnDat 2.2接口SIL2/PL d应用要求及EnDat 2.2接口

2012ERN 1387高精度增量式扫描,采用创新的
扫描asic芯片
2014绝对式旋转编码器满足SIL3/PL e应用要求,带EnDat 2.2接口和故障防范

NC数控系统和电子产品里程碑

1968

VRZ 59.4单轴双向计数器

1974

海德汉5041数显装置

1976

TNC 110TNC 120 3轴数字定位控制系统

1979

TNC 131 / TNC 135简易数控系统

1981

TNC 145 3轴数控系统

1984

TNC 155 4轴数控系统,带工件加工图形仿真功能

1995

EnDat绝对位置编码器的同步串行接口

1996

TNC 426配数字驱动的5轴数控系统

1996

TNC 410 MA海德汉全套变频器和电机

2004

iTNC 530配新型smarT.NC操作模式的数控系统

2007

TNC 620配串行数控接口HSCI的数控系统

2011

TNC 640铣车复合加工数控系统