量仪用的信号处理电子系统

量仪用的信号处理电子系统可获得大量测量数据并提供测量值统计计算功能。

QUADRA-CHEK是轮廓投影仪、测量显微镜、2-D和影像测量机以及三坐标测量机测量2-D轮廓中点位的信号处理电子系统,根据选择的机型,可手动也可自动测量,支持十字线,光学找边或用摄像头拍摄实时图像和自带图像处理功能。对于3-D轮廓,例如平面,圆柱形,圆锥形和球形,测头探测后保存测量点。

选装的CNC版还能进行全功能轴定位控制和自动执行测量程序。

2-D和3-D测量应用显示功能型号
ND 100 QUADRA-CHEK
信号处理电子系统,适用于
• 轮廓投影仪
• 测量显微镜
单色• 2-D几何元素测量 
• 十字线的点位测量
• 图形显示测量结果

ND 122 

ND 123

ND 1200 QUADRA-CHEK
信号处理电子系统,适用于
• 轮廓投影仪
• 测量显微镜
• 2-D测量机
单色• 2-D几何测量
• “自动识别”的测量功能
• 十字线的点位测量
• 几何元素和零件的编程
• 图形显示测量结果
ND 1202
ND 1203
ND 1204
ND 1300 QUADRA-CHEK
信号处理电子系统,适用于
• 轮廓投影仪
• 测量显微镜
• 影像测量机
彩色触摸屏
 
•2-D几何测量
• “自动识别”的测量功能
• 十字线的点位测量
• 几何元素和零件的编程
• 图形显示测量结果
ND 1302
ND 1303
ND 1304
ND 1400 QUADRA-CHEK
信号处理电子系统,适用于
• 手动三坐标测量机
彩色触摸屏• 2-D和3-D几何测量
• 用测头、十字线或刚性探测原件测量点位
• “自动识别”的测量功能
• 几何元素和零件的编程
• 图形显示测量结果
• 可保存五个坐标系
• 测头测量
ND 1404
QUADRA-CHEK 3000
信号处理电子系统,适用于:
• 轮廓投影仪
• 测量显微镜
• 2-D测量机
• 影像测量机 
彩色触摸屏• 通过几何测量、设计和定义获取2-D几何元素
• 十字线的测量点获取
• 创建测量程序(示教)
• 公差输入和图形显示测量结果
• 创建和输出测量报告
• 用户管理
•  “自动识别”测量:自动识别几何形状
QC 3014 NC
QC 3024 NC
IK 5000 QUADRA-CHEK
带通用PC计算机软件包的信号处理电子电路,适用于
• 轮廓投影仪
• 测量显微镜
• 影像测量机
•  坐标测量机
PC计算机显示器• 2-D和3-D几何测量(取决于版本)
• 十字线的点位测量
• 几何元素和零件的编程
• 图形显示测量结果
• 公差输入
• 导入CAD图纸,直接进行比较
• 3-D轮廓投影仪(选配;仅限测头)
IK 5000
测量和测试应用                显示功能型号
ND 200
信号处理电子系统,适用于
• 测量设备
• 调整和检测设备
• SPC检测站
颜色• 计量和统计功能(分类和公差检查,测量序列,SPC)ND 287
ND 1100 QUADRA-CHEK
信号处理电子系统,适用于
• 定位设备
• 测量夹具
单色• 测量值序列,最小/最大值存储ND 1102
ND 1103
ND 1104
ND 2100G GAGE-CHEK
信号处理电子系统,适用于
• 多点检测设备
• SPC检测站
颜色• 可对多达100件零件进行编程
• 图形显示测量结果
• 用公差和报警限值进行分类和公差检查
• 带最小值/最大值保存的测量值序列
• 输入公式和组合
• 统计过程控制(SPC)功能
ND 2104G
ND 2108G
MSE 1000
模块型信号处理电子系统,适用于
• 多点检测设备
• SPC检测站
PC计算机显示器
 
• 模块型设计
• 可根据需要配置
• 多种接口
• 与上层计算机系统进行高速通信
• 通用输出
MSE 1000

EIB 700
信号处理电子系统,适用于
• 测试站 
• 多点检测设备 
• 移动式数据获取
PC计算机显示器• 高精度位置测量,刷新频率高达50 kHz
• 可编程的测量值输入 
• 内部和外部测量值触发
• 测量值存储,每个通道可保存大约250 000个测量值 
• 通过标准以太网接口连接上层计算机系统
EIB 741
IK 220
信号处理电子系统,安装带PCI接口的计算机中,适用于
• 测量站和测试站
PC计算机显示器• 可编程的测量值输入
• 内部和外部测量值触发
• 测量值存储,每个通道可保存8192个测量值

IK 220